HCLD-2耐電痕化指數(shù)試驗儀由華測儀器生產是根據(jù)耐漏電起痕試驗（電痕化指數(shù)試驗）的標準，規(guī)定的模擬仿真試驗項目，用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數(shù) (CTI) 和耐電痕化指數(shù)(PTI) ，電痕化是指固體絕緣材料在電應力和電解雜質的聯(lián)合作用下，在表面（或內部）產生導電通道。

設備軟件

采用高度集成化設計，內置智能測試軟件，通過12寸觸摸屏控制，操作簡單，具備試驗穩(wěn)定性，并有斷電資料保存功能，可實現(xiàn)數(shù)據(jù)圖像的保存恢復，支持多種測試標準。

產品特點

1.帶有濾波、隔離變壓器、穩(wěn)壓變壓器

2.自動化程度高

3.帶有排風口

4.具有數(shù)據(jù)數(shù)顯、存儲功能

5.具有過流保護、過壓保護、門限保護等

產品參數(shù)

試驗電壓：100V ~ 1000V（可定制）

控制方式：12寸觸摸屏控制系統(tǒng)

滴液高度：30 ~ 40mm 連續(xù)可調

試驗電壓壓降：≤5%

電極距離：4.0mm±0.1mm，夾角 60°±5

電極壓力：1.0±0.05N(可調)

滴液間隔時間：1s ~ 999s

短接電流：1A

試驗艙材料：PC塑料

滴液大小：（20.0 ~ 23.0）mm³連續(xù)可調

操控方式：12寸觸摸屏

電極材料：電極頭鉑金

試驗終止：50滴或100滴或漏電流≥0.5A并維持時間≥2s

供電電源：220V 50Hz 10A

應用領域

耐漏電起痕試驗是評價電工電子產品中使用的固體絕緣材料優(yōu)劣的重要指標，被普遍應用于電工電子、電器、半導體封裝、信息技術設備、改性塑料等領域。